Testing of a `hard' X‐ray interferometer for experimental investigations
| Acta Crystallographica A-Foundation and Advances,2020, A76, 3, 390-394 էջ, Մեծ Բրիտանիա
X-ray LLL interferometer with wedge-shaped mirror plate
| Advanced Nanomaterials and Methods-ANAM2019, 2019, 64-64 էջ
Исследование смещений интерференционных полос по разным кристаллографическим направлениям, как метод обнаружения и оценки остаточных напряжений в кристаллах
| Известия НУАСА, т. 2 (46), с. 19-24, 2015
Исследование остаточных напряжений в материалах с применением рентгеноинтерференционных методов 3. Электронное облучение
| Известия НУАСА, т.1(39), с.74 -79, 2014